100W USB C數(shù)據(jù)充電線和普通的插頭容易生銹的原因

100W USB C數(shù)據(jù)線插頭容易生銹的現(xiàn)象與100W Type C數(shù)據(jù)線插頭的電鍍層有直接關(guān)系。如果USB插頭金屬表面的電鍍層能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)的厚度和質(zhì)量，就不容易生銹。如果鍍層不好，很容易生銹。電鍍層的質(zhì)量是衡量金屬表面抗氧化和防銹能力的一個(gè)指標(biāo)。

電鍍層的抗氧化、防銹能力，行業(yè)規(guī)定要進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)進(jìn)行分類。常規(guī)有8小時(shí)鹽霧試驗(yàn)、12小時(shí)鹽霧試驗(yàn)、24小時(shí)鹽霧試驗(yàn)和48小時(shí)鹽霧試驗(yàn)。鹽霧試驗(yàn)時(shí)間越長(zhǎng)，抗氧化防銹能力越強(qiáng)，不易生銹。

USB數(shù)據(jù)線插頭為什么會(huì)出現(xiàn)易生銹的現(xiàn)象？那么個(gè)中原因是什么？這是跟USB數(shù)據(jù)線的插頭電鍍層有直接關(guān)系，USB插頭金屬表面的電鍍層能達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)厚度及質(zhì)量的，就不會(huì)容易生銹，電鍍層差，就會(huì)容易生銹，電鍍層質(zhì)量的好壞，是衡量金屬表面抗氧化生銹能力。

　　電鍍層抗氧化生銹能力，行業(yè)中是規(guī)定進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)來(lái)分級(jí)別的，常規(guī)有過(guò)8小時(shí)鹽霧試驗(yàn)，過(guò)12小時(shí)鹽霧試驗(yàn)，過(guò)24小時(shí)鹽霧試驗(yàn)，過(guò)48小時(shí)鹽霧試驗(yàn)。過(guò)鹽霧試驗(yàn)時(shí)間越長(zhǎng)，抗氧化生銹能力就越強(qiáng)，就不容易生銹。

　 雅創(chuàng)電子生產(chǎn)的USB數(shù)據(jù)線也同樣有級(jí)別之分，分為中高端產(chǎn)品，鹽霧試驗(yàn)?zāi)苓^(guò)24小時(shí)、48小時(shí)。容易引起USB插頭生銹的，另外一個(gè)原因是插頭電鍍層受損，外露內(nèi)部金屬部分，造成了USB插頭極易生銹，為了保證品質(zhì)，雅創(chuàng)電子數(shù)據(jù)線廠家生產(chǎn)的USB數(shù)據(jù)線，對(duì)USB插頭的保護(hù)，也是重點(diǎn)管控，工程師設(shè)計(jì)合理及匹配的模具，生產(chǎn)過(guò)程中才能保證USB插頭的電鍍層不受損，這樣USB插頭會(huì)更耐用也不容易生銹。